霍梅爾NanoScan高精密粗糙輪廓度測量儀可以在一個測量流程內組合測量粗糙度和輪廓，柔性大，能夠滿足表面測量技術的所有需求，既省時，又省費用。
| 技術特點 | 主要特點 |
| ?電子測頭臂識別技術 | ?超精密的光機探測系統 |
| ?探測頭的電子保護裝置 | ?通用性好 |
| ?電子調節探測力 | ?極富人性化的設計 |
| ?高精度的測頭臂定位 | ?測頭臂的選擇范圍廣 |
| ?可上下測量 | ?創新的技術 ?校準方法簡單 ?新的評價可能：可上下測量，測量工件表面形貌時的測量行程大 |
校準方法 |
帶電子識別功能的測頭臂支架 由于使用了磁性測頭臂支架，所以測頭臂的更換迅速可靠 |
可上下測量 測頭臂安裝了雙探測頭，所以一次運行可上下探測 |
| 選項 | 供貨范圍 |
?用于特殊測量需求的粗糙度和輪廓測頭臂 ?經過認證的qs-STAT接口（AQDEF）。 ?輪廓標準塊KN8 ?可保護測量系統免受環境影響的護罩
| ?帶22"TFT顯示屏的評價電腦，CD刻錄器，粗糙度和輪廓測量評價軟件 ?具有自動保存功能的PDF打印機 ?wavecontrol™basic操作面板 ?包含3個帶金剛石探測頭或紅寶石測頭的測頭臂 ?粗糙度標準塊RNDH2 ?用于緊固工件的測量臺MT1 XYO ?校準用球形標準件
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| 型號 | NanoScan855 |
| 測量范圍 | R+C：24/48mm |
| zui小分辨率 | R+C：0.6/1.2nm |
| 水平測量范圍/水平分辨率 | 200mm/0.01μm |
| 測量立柱行程 | 550mm |
| 硬巖石板 | 850x600mm |
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